Dec.18_13:30_【新設】Metrology & Inspectionの将来展望

2nm世代のロジック半導体の国内量産開始が目前に迫る中、量産時の歩留まり向上に向けて、検査計測技術への注目が高まっています。Metrology & Inspection Summitでは、デバイスメーカー・検査装置メーカー・トップアナリストが一堂に会し、半導体検査計測の未来について多角的に議論します。

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