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セミナースケジュール

Dec.17_13:40_APCSテクノロジーセッションⅡ 熱・応力マネジメント

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APCSテクノロジーセッションⅡ 熱・応力マネジメント

チップレット・3DICにおける熱・応力の課題

APCS

2025/12/17(水) | 13:40 - 15:10

TheSUMMIT 会議棟7階 国際会議場

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※詳細はFAQをご確認ください。

チップレット・3DICにおいて、熱・応力を克服することが、HPC以外の用途に拡大するためのキーポイントになります。この課題に関して、各分野の専門家に解説してもらい、今後のソリューションの方向性を議論します。

※プログラムは都合により変更となる場合がございます。予めご了承ください。

プログラムアジェンダ

セッションチェア:
山下 和之(アドバンテスト)
内藤 貢(ソシオネクスト)
※英語社名アルファベット順
13:40-14:10
2.5D/3D実装に関わる設計環境・ツール、熱・応力分野との協調
Masaya Takahashi
高橋 昌也
アンシス・ジャパン
セミコンダクタBU

本講演では、2.5D/3D IC設計環境において、電気・熱・機械のマルチフィジックス相互作用を解析するSynopsysソリューションをご紹介します。 さらに、電源ノイズや熱設計を含む電力・信号・応力解析エンジンについて解説するとともに、高温環境下での構造的影響を考慮し、熱膨張による反りや応力の課題を解決する協調設計環境についても取り上げます。これにより、チップからシステムレベルまで一貫した解析を可能にする最新のアプローチをご紹介します。

14:10-14:40
Warpage Mitigation for Manufacturing and Reliability
Seungbae Park
Seungbae Park
Binghamton University
Mechanical Eng
Professor
14:40-15:10
AI/HPC用最先端デバイスのテストにおけるサーマル課題とソリューション
Shintaro Kataoka
片岡 慎太郎
アドバンテスト
DH事業本部 Product marketing部
部長

AI/HPC用デバイスの高性能化に伴い、パッケージ構造も複雑化し、ChipletやSub-assemblyでのテストニーズも高まっている。近年チップの高集積化・多層化によりテスト中の熱課題が顕著になっており、正確かつ効率的なテストには熱対策が不可欠である。本講演では顕在化する熱課題を紐解き、ソリューションの一端を紹介する。